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著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より)
二川 清
NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部・シニアプロフェッショナル。
工学博士。
1949年大阪市生まれ。
1968年大阪府三国ヶ丘高校卒業。
1972年大阪大学基礎工学部卒業。
1974年同大学院基礎工学研究科修士課程修了。
1995年工学博士(大阪大学)。
1974年NEC入社。
1992年同社主管研究員。
2002年分社に伴いNECエレクトロニクスに移籍。
2005年~現在、同社シニアプロフェッショナル。
2001年より大阪大学大学院非常勤講師、ゲストスピーカー。
2007年より金沢工業大学大学院客員教授。
日本信頼性学会(副会長など歴任)、LSIテスティング学会(運営委員など)、応用物理学会、IEEE、EDFAS(電子デバイス故障解析学会)会員(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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2012/11/12 (Mon) 07:09:24
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2012/11/12 (Mon) 07:09:24
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